Sadikov, Akramjon (2025) AK-1 ANTIPIREN KOMPOZITSIYASINING ELEKTRON SKANERLOVCHI MIKROSKOR (ESM) VA ELEMENT TAHLILI. Techscience.uz - Texnika fanlarining dolzarb masalalari, 3 (7). pp. 30-33. ISSN 3030-3702

[thumbnail of 6.+Sadikov+Akramjon.pdf] Text
6.+Sadikov+Akramjon.pdf - Published Version
Download (595kB)

Abstract

Taklif qilinayotgan yangi AK-1 antipirein to‘qimachilik materiallari olovbardoshligini oshirish uchun xizmat qiladi. Antipiren kompozitsiyalar tuzilishi, mato bilan bog‘ hosil qilganda uning tarkibiy qismlarini yaxshi aralashganligi, boshqa xossalarni tahlil qilish maqsadida elektron-mikroskop va element tahlillardan foydalanildi. Elektron mikroskop tahlil uchun AK-1 namunasi tayyorlandi va vakuumli sharoitda 10-20 nm qalinlikda elektr o‘tkazuvchanligi yuqori bo‘lgan metall (oltin) kukunlar purkalib polimer kompozit metall yuzasini qoplash ketma-ketligi bajarildi.

Item Type: Article
Subjects: T Technology > T Technology (General)
Depositing User: Unnamed user with email info@ilmiykutubxona.uz
Date Deposited: 04 Oct 2025 12:30
Last Modified: 04 Oct 2025 12:30
URI: https://ilmiykutubxona.uz/id/eprint/1369

Actions (login required)

View Item
View Item